|
|
試験プラグと試験ジャック WHITE TEST POINT
- 5012
- Keystone Electronics
-
1:
¥53.2
-
406,353在庫
|
Mouser 部品番号
534-5012
|
Keystone Electronics
|
試験プラグと試験ジャック WHITE TEST POINT
|
|
406,353在庫
|
|
|
¥53.2
|
|
|
¥40.7
|
|
|
¥36.4
|
|
|
¥31.6
|
|
|
表示
|
|
|
¥30.9
|
|
|
¥25.9
|
|
|
¥22.9
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Test Plugs & Test Jacks
|
Test Points
|
PC Test Point, Multipurpose
|
|
|
|
|
接触プローブ P25 2.54mm SPRING PROBE 2 PART SERRATED HEAD
- P25-0123
- Harwin
-
1:
¥458.4
-
3,228在庫
-
3,500予想2026/11/03
|
Mouser 部品番号
855-P25-0123
|
Harwin
|
接触プローブ P25 2.54mm SPRING PROBE 2 PART SERRATED HEAD
|
|
3,228在庫
3,500予想2026/11/03
|
|
|
¥458.4
|
|
|
¥390.3
|
|
|
¥383.7
|
|
|
¥380.4
|
|
|
表示
|
|
|
¥332.2
|
|
|
¥323.9
|
|
|
¥297.3
|
|
|
¥282.4
|
|
|
¥252.5
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Contact Probes
|
|
Probe
|
|
|
|
|
接触プローブ P25 2.54mm SPRING PROBE 2 PART SPEAR HEAD
- P25-0126
- Harwin
-
1:
¥411.9
-
744在庫
-
1,000予想2026/12/29
|
Mouser 部品番号
855-P25-0126
|
Harwin
|
接触プローブ P25 2.54mm SPRING PROBE 2 PART SPEAR HEAD
|
|
744在庫
1,000予想2026/12/29
|
|
|
¥411.9
|
|
|
¥403.6
|
|
|
¥393.7
|
|
|
¥385.4
|
|
|
表示
|
|
|
¥378.7
|
|
|
¥368.7
|
|
|
¥360.4
|
|
|
¥353.8
|
|
|
¥352.1
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Contact Probes
|
|
|
|
|
|
|
試験プローブ 150A, 12 MHz Current Probe, BNC, AC/DC, 150A rms, 300A Peak Pulse
- T3CP150-12
- Teledyne LeCroy
-
1:
¥939,114
-
2在庫
-
2予想2026/12/03
|
Mouser 部品番号
940-T3CP150-12
|
Teledyne LeCroy
|
試験プローブ 150A, 12 MHz Current Probe, BNC, AC/DC, 150A rms, 300A Peak Pulse
|
|
2在庫
2予想2026/12/03
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Test Probes
|
DC/AC Current Probes
|
Current Probe
|
Current Probe
|
|
|
|
試験アクセサリ - その他 TS100/TS90 ACCESS,BNC TO F(MALE)
Fluke Networks 26501200
- 26501200
- Fluke Networks
-
1:
¥19,214.4
-
非在庫リードタイム 1 週間
|
Mouser 部品番号
676-26501200
|
Fluke Networks
|
試験アクセサリ - その他 TS100/TS90 ACCESS,BNC TO F(MALE)
|
|
非在庫リードタイム 1 週間
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Test Accessories - Other
|
|
|
|
|
|
|
試験プラグと試験ジャック PL 2600 SIL S W SET
Altech 972425012
- 972425012
- Altech
-
1:
¥6,399.8
-
非在庫リードタイム 6 週間
|
Mouser 部品番号
845-972425012
|
Altech
|
試験プラグと試験ジャック PL 2600 SIL S W SET
|
|
非在庫リードタイム 6 週間
|
|
|
¥6,399.8
|
|
|
¥6,286.9
|
|
|
¥6,227.1
|
|
|
¥6,154
|
|
|
表示
|
|
|
¥6,082.6
|
|
|
¥5,977.9
|
|
|
¥5,871.6
|
|
|
見積り
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Test Plugs & Test Jacks
|
|
|
|
|
|
|
試験クリップ Photovoltaic Alligator Clip, 1500V CATIII/1000V CATIV, Red
- CT4501-2
- Cal Test
-
1:
¥1,661
-
非在庫リードタイム 8 週間
|
Mouser 部品番号
510-CT4501-2
|
Cal Test
|
試験クリップ Photovoltaic Alligator Clip, 1500V CATIII/1000V CATIV, Red
|
|
非在庫リードタイム 8 週間
|
|
最低: 1
複数: 1
|
|
Test Clips
|
Alligator Clips
|
Clip
|
|
|
|
|
接触プローブ HEADLESS 4PT CROWN 101115-012-922
- S-100-U-5.5-G-S
- Smiths Interconnect / IDI
-
1,000:
¥257.5
-
非在庫リードタイム 6 週間
|
Mouser 部品番号
818-S-100-U-5.5-G-S
|
Smiths Interconnect / IDI
|
接触プローブ HEADLESS 4PT CROWN 101115-012-922
|
|
非在庫リードタイム 6 週間
|
|
|
¥257.5
|
|
|
¥240.8
|
|
最低: 1,000
複数: 100
|
|
Contact Probes
|
|
Probe
|
|
|
|
|
接触プローブ HEADED 37 DEG 3 SIDED CHISEL
- GSS-1-7-G
- Smiths Interconnect / IDI
-
1,000:
¥206
-
非在庫リードタイム 6 週間
|
Mouser 部品番号
818-GSS-1-7-G
|
Smiths Interconnect / IDI
|
接触プローブ HEADED 37 DEG 3 SIDED CHISEL
|
|
非在庫リードタイム 6 週間
|
|
最低: 1,000
複数: 100
|
|
Contact Probes
|
|
Probe
|
|
|
|
|
接触プローブ RECEPT SIZE R-SS-30 WITH WIRE WHITE 30G
Smiths Interconnect / IDI R-SS-30-PW-12-1
- R-SS-30-PW-12-1
- Smiths Interconnect / IDI
-
1,000:
¥1,413.5
-
非在庫リードタイム 6 週間
|
Mouser 部品番号
818-R-SS-30-PW-12-1
|
Smiths Interconnect / IDI
|
接触プローブ RECEPT SIZE R-SS-30 WITH WIRE WHITE 30G
|
|
非在庫リードタイム 6 週間
|
|
最低: 1,000
複数: 100
|
|
Contact Probes
|
|
Receptacle
|
|
|
|
|
接触プローブ
Smiths Interconnect / IDI SS-50-B9-2.9-D
- SS-50-B9-2.9-D
- Smiths Interconnect / IDI
-
1,000:
¥245.8
-
非在庫リードタイム 6 週間
|
Mouser 部品番号
818-SS-50-B9-2.9-D
|
Smiths Interconnect / IDI
|
接触プローブ
|
|
非在庫リードタイム 6 週間
|
|
|
¥245.8
|
|
|
¥229.2
|
|
最低: 1,000
複数: 100
|
|
Contact Probes
|
|
Probe
|
|
|
|
|
接触プローブ
Smiths Interconnect / IDI SS-50-B9-2.9-G
- SS-50-B9-2.9-G
- Smiths Interconnect / IDI
-
1,000:
¥245.8
-
非在庫リードタイム 6 週間
|
Mouser 部品番号
818-SS-50-B9-2.9-G
|
Smiths Interconnect / IDI
|
接触プローブ
|
|
非在庫リードタイム 6 週間
|
|
|
¥245.8
|
|
|
¥229.2
|
|
最低: 1,000
複数: 100
|
|
Contact Probes
|
|
Probe
|
|
|