onsemi FAD1110EVB ドライバ評価ボード

FAD1110EVBを使用すると、デバイスの差動入力段を詳細に観察できます。差動入力段には内蔵のスパイクフィルタ機能および接地シフト許容が含まれ、自動車の過酷な電気的環境下で堅牢なトリガを実現します。さらに、本評価ボードは、設定された最大デッドタイムを超過した場合にハード・シャット・ダウン (HSD) メカニズムによってイグニッションIGBTが直ちに無効になる仕組みの実証にも最適です。この動作によって、内部温度過負荷および意図しないスパーク・イベントから保護されます。

ボードの設計では、イグニッションレベルの電圧過渡に対する安全な対処を優先しています。PCBレイアウトは、IPC 2221Aガイドラインに沿って沿面/空間距離が十分に設けられています。また、差動入力、出力ゲート駆動、VSENSE電流制限ノード、CSSDタイミング・ピンなどの重要な信号には、はっきりとラベル表示されたコネクタを使用して、あるいはオシロスコープのテスト・ポイント経由でアクセスできます。

onsemi FAD1110EVBは、多種多様なイグニッション・コイルまたは同等の誘導負荷を使用した評価に対応しており、ベンチレベルでの特性評価やシステムレベルのテストに適しています。本ボードは、機能評価に加えて、リファレンス・デザインとしても使用できます。そのため、本環境の車載用イグニッション・システムにイグニッション・ゲート・ドライバFAD1110を実装することにも対応しています。