KEMET 宇宙、航空電子工学、防衛コンポーネント

KEMETの詳細

KEMETは、宇宙、航空電子工学、防衛環境のミッションクリティカルなアプリケーションの高い厳格さを満たすセラミックおよびタンタルコンデンサを提供しています。これらのコンポーネントは、全業界の多様なアプリケーションに適した信頼性グレードで設計および製造されています。宇宙、航空電子工学、防衛アプリケーションに使用する場合、KEMETは、商用既製品（COTS）、高信頼性代替（HRA）、軍事、宇宙グレードのコンポーネントの使用を推奨しています。

タンタル機能

KEMET有機コンデンサ（KO-CAP）は、導電性高分子カソードが備わった固体電解設計が特徴で、アルミ電解からの高容量、多層セラミックによる低ESR、タンタルのスペース効率が組み合わされています。

HRA高分子電解シリーズは、KO-CAPの性能上のメリットを維持し、信頼性の高いアプリケーションを対象にカスタマイズされた電気スクリーニングと故障率オプションを活用した保守的な設計を遵守しています。これらのHRAコンポーネントは、サージ電流試験を実施し、MIL-PRF-55635およびMIL-PRF-32700仕様に準拠しています。

KEMETは、防衛および航空宇宙要件に整合するT580（シングルアノード）およびT581（マルチアノード）シリーズを積極的に認定しています。この追跡は、タンタルポリマーコンデンサを対象としたMIL-PRF-32700性能仕様の承認に従っており、重要なアプリケーションを対象としたQPL整合製品範囲の実現に対するKEMETのコミットメントが強化されています。

F-Techの利点

KEMETのオプションのF-Techによって、タンタル誘電体における隠れた欠陥が排除されています。この独自の製造プロセスによって、アノード内の酸素と炭素含有量が最小限に抑えられ、アノードとリード線の間のより強い機械的接続を実現しており、コンデンサの堅牢性が大幅に向上しています。F-Techは、セレクトKEMETタンタルコンデンサファミリでご用意があり、SBDと組み合わせることができます。

シミュレーションされた破壊スクリーニング (SBD)

破壊電圧(BDV) は、コンデンサの堅牢性の究極テストですが、破壊的なテストです。KEMETは、破壊スクリーニングの結果をシミュレーションするために特許取得済のシミュレーションブレークダウンスクリーニング (SBD) を開発しました。この非破壊試験技術は、誘電体に損傷を与えることなくコンデンサのBDVをシミュレーションします。この100%母集団スクリーニングは、誘電体における隠れた欠陥を識別し、最高レベルの誘電体試験を実現しています。SBDは、セレクトKEMETタンタルコンデンサファミリでご用意があり、F-Techと組み合わせることができます。