特徴
- 高度に統合されたデータ収集ソリューション
- プログラム可能な7つのゲインオプション
- G=0.325V/V、0.65V/V、1.3V/V、2.6V/V、5.2V/V、10.4V/V、20.8V/V
- 最大入力範囲:±12.6Vの差動
- 最大入力同相範囲:-12V~+12V
- 最大平坦性と直線位相が備わった4次AAF
- 100dB(代表値)除去による完全なエイリアシング保護
- 優れたデバイス間の位相マッチングとドリフト
- 高精度ACおよびDC性能の組み合わせ
- 合計システムダイナミックレンジ:最大130dB
- 0.325V/V ゲインで-120dB標準THD
- 100dBゲインで20.8V/V最小DC CMRR
- 25℃の入力バイアス電流:最大25pA
- 標準INL:±6ppm
- ゲイン誤差ドリフト:最大5.5ppm/°C
- 20kHzにて、最大±0.13 °のデバイス対デバイス位相不整合
- プログラム可能な出力データレート、フィルタータイプ、レイテンシ
- 直線位相デジタルフィルタオプション
- 広帯域低リップルFIRフィルタ(110kHzの最大入力帯域幅)
- Sinc5フィルタ(1.024MSPS、198.4kHz最大入力帯域幅、4μs最大グループ遅延)
- Sinc3フィルタ (50Hz/60Hz除去)
- 統合LDO
- 内蔵電源デカップリングコンデンサ
- ピンストラップまたはSPIを介した構成
- 絶縁アプリケーション用に最適化されたデジタルインターフェイス
- 診断チェックメカニズムパッケージソフト
- 動作温度範囲: -40°C~+85°C
- パッケージング
- 12.00mm × 6.00mm 84-ball CSP _ BGA(0.80mmボール・ピッチ)
- ディスクリート ソリューションと比較して設置面積を10%に削減
アプリケーション
- ユニバーサル入力測定プラットフォーム
- 電気試験と測定
- 音と振動、音響および材料科学研究開発
- ループ検証での制御とハードウェア
- 予測保守のための状態監視
- オーディオ試験
機能ブロック図
公開: 2023-08-10
| 更新済み: 2024-08-08

