Analog Devices Inc. ADATE318シングルチップソリューション
Analog Devices ADATE318は、完全なシングルチップソリューションを実現しており、多種多様なATEおよび計測機器アプリケーションを対象としています。ADATE318は、ピン当たり4つのクアドラント、パラメトリック測定ユニット(PPMU)を使用して、ドライバ、コンパレータ、アクティブ負荷(DCL)のピンエレクトロニクス機能を実行します。ADATE318の1チップ当たりVHHドライブ機能は、フラッシュメモリテストアプリケーションをサポートしています。統合16ビットDACで、操作に必要なすべてのDCレベルを供給しているオンチップ較正エンジンが搭載されています。また、この較正機能は、各機能ブロックのゲインエラーとオフセットエラーも修正します。設計者は、ADATE318をデュアル、シングルエンド駆動/受信チャンネルとして、あるいはシングル差動駆動/受信チャンネルとして使用できます。各チャンネルには、高速ウィンドウコンパレータだけでなく、プログラマブル閾値差動コンパレータが搭載されています。このシングルチップ、デュアル統合DCLには、4つのクアドラントPPMUソリューションが備わっており、-1.5V~+6.5Vで動作し、最大600MHzのデータレートを提供します。Designers can use the ADATE318 from Analog Devices as a dual, single-ended drive/receive channel or as a single differential drive/receive channel. Each channel includes a high-speed window comparator as well as a programmable threshold differential comparator. This single-chip, dual integrated DCL with a four-quadrant PPMU solution operates from -1.5V to +6.5V and delivers data rates up to 600MHz.
特徴
- 600MHz/1200Mbps data rate
- 3-level driver with high-Z and reflection clamps
- Window and differential comparators
- Per pin PPMU with −2.0V to +6.5 V range
- Low leakage mode (typically 4nA)
- Integrated 16-bit DACs with offset and gain correction
- −1.5V to +6.5V high-speed operating voltage range
- 0.0V to 13.5V dedicated VHH output pin range
- 1.1W power dissipation per channel
- Driver
- −1.5V to +6.5V 3-level voltage range
- Precision trimmed output resistance
- 200mV minimum to 8V maximum unterminated swing
- 725ps minimum pulse width, VIH − VIL = 2.0V
- Per pin PPMU (PPMU)
- −2.0V to +6.5V force voltage/compliance range
- 5 current ranges: 40mA, 1mA, 100μA, 10μA, 2μA
- External sense input for system PMU
- Go/no-go comparators
- Comparator
- Differential and single-ended window modes
- >1.2GHz input equivalent bandwidth
- Load
- ±25mA current range
- Levels
- Fully integrated 16-bit DACs
- On-chip gain and offset calibration registers and add/multiply engine
- Package
- 84-lead 10mm × 10mm LFCSP (0.4mm pitch)
アプリケーション
- Automatic test equipment
- Semiconductor test systems
- Board test systems
- Instrumentation and characterization equipment
公開: 2017-10-30
| 更新済み: 2022-04-28
