Texas Instruments DLPNIRNANOEVM DLP® NIRscan™ Nano評価モジュール

Texas Instruments DLPNIRNANOEVM DLP NIRscan Nano評価モジュール（EVM）は、バッテリ駆動のコンパクトな評価ジュールです。これによって、ポータブル近赤外分光法ソリューションに便利です。DLP2010NIRデジタルマイクロミラーデバイス（DMD）が特徴のNIRscan Nanoは、Bluetooth低エネルギーに対応しています。これによって、ハンドヘルド分光計用のモバイルラボ測定が可能です。EVMには、DLP2010NIR DMD、回折格子、単一要素検出器が統合されており、高価なInGaAsリニアアレイベースの検出器の設計が不要となります。